詳細摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-28 在線留言上海禹重實業有限公司
上海禹重實業有限公司
詳細摘要： Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器，可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-28 在線留言
詳細摘要： 輝光放電光譜檢測方法利用低壓，通過氬離子束對樣品表面均勻濺射物質的非熱能處理技術。濺射出的物質離開樣品表面隨后被原子化并在低壓等離子放電區域被激發。LECO G...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-27 在線留言
詳細摘要： Apreo 革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-02 在線留言
詳細摘要： Talos™ 是新一代 TEM 產品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數據，從而專注于研究發現。Talos 的配置適合開展材料研究和生命科學研究，是一...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-02 在線留言
詳細摘要： 自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優異的產品設計以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。...
產品型號：所在地：上海市更新時間：2024-01-01 在線留言
詳細摘要： FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（ESEM）和兩個DualBeam系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-22 在線留言
詳細摘要： FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡是 FEI *的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產品。在*半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 ...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-21 在線留言
詳細摘要： FEI MagellanTM系列掃描電子顯微鏡讓科學家和工程師迅速看到以前無法視及的微觀世界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-21 在線留言
詳細摘要： 蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-20 在線留言
詳細摘要： FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生*的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-20 在線留言
詳細摘要： FEI Talos F200系列 場發射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線光譜儀 ...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-19 在線留言
詳細摘要： 蔡司 SIGMA高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-19 在線留言
詳細摘要： 蔡司 Gemini SEM場發射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統、的分辨率以及簡便的操作方式。...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-18 在線留言
詳細摘要： FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-18 在線留言
詳細摘要： FEI Nova Nano SEM 場發射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-17 在線留言
詳細摘要： FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環境 TEM 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借*的差動泵...
產品型號：所在地：更新時間：2023-09-17 在線留言
詳細摘要： PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
產品型號：所在地：更新時間：2023-08-08 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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